物理波段
物理光谱响应通道
SPECTRAL SENSOR
近红外高光谱传感器
面向材料与物质特征信息，结合目标波段、光源条件与成像需求确定器件方案。
DETECTOR / CORE SPECIFICATIONS
光探测器核心指标
计算重构波段
最高可达 120 个输出波段
计算重构光谱分辨率
最高可达 1 nm
最快采样间隔
相邻采样的时间间隔
| 指标 | 可见光方向 | 近红外方向 |
|---|---|---|
| 资料覆盖波段 | 380–1000 nm | 1000–2400 nm |
| 物理波段 | 16 个；与计算重构输出波段分开定义 | |
| 计算重构能力 | 最高 120 个计算波段；计算重构光谱分辨率最高 1 nm | |
| 时间采样 | 最快采样间隔 10 ms；不等同于包含传输、重构与显示在内的端到端延迟 | |
| 系统输出 | 按配置输出通道信号、计算光谱及图像分析结果 | |
| 标定要求 | 结合光源、参考光谱、探测响应与实际光路进行系统定标 | |
16 个物理波段、最高 120 个计算波段、1 nm 计算重构光谱分辨率及最快 10 ms 采样间隔，依据企业补充的核心能力口径。各型号的工作波段、采样速度、分辨率及其同时实现条件按配置和测试确认；现有整机产品仍以各自参数表为准。
SENSOR INTEGRATION
面向仪器集成
- 手册覆盖范围
- 1000–2400 nm
- 集成要素
- 光源 / 光路 / 探测 / 算法
- 配置方式
- 按项目确认
光学匹配
根据目标物和光谱特征选择光源、工作距离与采集方式。
采集与标定
明确暗场、参考光谱、温漂控制与数据输出要求。
算法与验证
根据样本和场景开展光谱定标、计算重构与反演模型验证。
器件独立型号、封装、接口与完整性能表待具体方案确认。